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網(wǎng)站首頁/新材料/納米材料熱點(diǎn)/華科錢立華教授:納米多孔金的電化學(xué)制備與CO2還原時的活性恢復(fù)
華科錢立華教授:納米多孔金的電化學(xué)制備與CO2還原時的活性恢復(fù)
▲第一作者:呂湘龍 ;通訊作者:錢立華           

通訊單位:華中科技大學(xué)
論文DOI:10.1021/acscatal.0c00627               

研究亮點(diǎn)


1. 采用電化學(xué)脫合金方法制備具有豐富表面臺階的納米多孔Au(pc-NPG)。

2. 與自由腐蝕的納米多孔Au (cd-NPG)相比,pc-NPG具有更高的CO2催化活性,Pb欠電位沉積實(shí)驗(yàn)證明其高活性來源于高密度的表面臺階位點(diǎn)。

3. 通過XPS和原位CV實(shí)驗(yàn),發(fā)現(xiàn)了NPG的催化活性衰退的原因,并且探索了一種簡單而有效的電極復(fù)活方法。


研究背景


A. 納米多孔金屬材料與電化學(xué)催化
納米多孔金屬是由固體韌帶(孔棱,Ligaments)和孔道(Pore)在三維空間相互交織構(gòu)成的一類功能材料。由于其同時具有凹/凸曲率的特殊韌帶構(gòu)型,可實(shí)現(xiàn)電催化所需的介質(zhì)離子和電子的無阻礙傳輸,且由于良好的導(dǎo)電性、高比表面積,使其成為非常有前景的電催化材料。

相比于納米顆粒,納米多孔金屬具有自支撐,高活性,結(jié)構(gòu)可調(diào)等優(yōu)點(diǎn)。有機(jī)合成的納米顆粒通常需要負(fù)載在導(dǎo)電基底材料上進(jìn)行反應(yīng),催化活性增強(qiáng)可能存在基底的協(xié)同作用。納米多孔金屬由于不需要基底材料的支持,所以在納米多孔金屬上的催化反應(yīng)可以很好地排除這些干擾因素的影響。同時,由于納米多孔金屬表面具有大量的表面缺陷(臺階/扭結(jié),平臺,晶格缺陷等),使其對CO, CH3OH, C2H5OH氧化以及氧還原反應(yīng)都具有較高的催化活性。在脫合金過程中通過控制實(shí)驗(yàn)參數(shù),可以對納米多孔金屬的結(jié)構(gòu)(孔徑/韌帶尺寸,表面應(yīng)變,晶面結(jié)構(gòu)等)進(jìn)行精確的調(diào)控。

研究的核心問題:納米多孔金屬高催化活性的來源

B. CO2電化學(xué)還原時的活性衰退機(jī)制
CO2電化學(xué)還原是近年來催化研究的熱點(diǎn),它不僅可以利用可再生能源(太陽能,風(fēng)能等)將CO2這種溫室氣體轉(zhuǎn)化為HCOOH,CO,C2H4等具有高附加值的化學(xué)產(chǎn)物,同時還可以緩解全球變暖等環(huán)境問題。然而,實(shí)驗(yàn)研究表明,經(jīng)過長時間反應(yīng)后,金屬電極的催化活性會急劇降低。有研究表明這種失活可能是由于活性位點(diǎn)—低配位原子數(shù)量的減少,也可能是由于電解液中金屬離子雜質(zhì)在電極表面沉積,改變了電極表面的成分和結(jié)構(gòu)。

研究的核心問題:對金屬電極催化反應(yīng)過程中活性衰退的機(jī)制尚存在爭議,對失活電極活性如何恢復(fù)沒有很好的解決辦法。

研究思路剖析


1. 針對電化學(xué)CV制備的納米多孔Au (pc-NPG) 和傳統(tǒng)自由腐蝕制備的納米多孔Au (cd-NPG),研究其結(jié)構(gòu)和性能的差異,明晰納米多孔Au高催化活性的來源;

2. 經(jīng)過長時間CO2還原反應(yīng)以后,觀察電極表面成分和結(jié)構(gòu)演化,分析其活性衰退的原因;

3. 探索一種能有效復(fù)活電極性能的方法,驗(yàn)證前述機(jī)制并分析其合理性。


圖文簡介


要點(diǎn)1:納米多孔金屬催化劑的制備及表征

▲圖1 (a-b) pc-NPG和cd-NPG的SEM照片;(c-d) TEM照片;(e) XRD;(f) Au 4f XPS;(g-h) Pb-upd分峰圖譜;(i) pc-NPG和cd-NPG不同晶面的比例。

采用電位循環(huán)和自由腐蝕兩種方法,分別制備了pc-NPG和cd-NPG納米多孔Au,孔徑尺寸基本相同。Pb欠電位沉積(Pb-upd)證實(shí)了兩種NPG主要結(jié)構(gòu)差別在于pc-NPG具有更高比例的表面臺階。CO2電化學(xué)性能測試表明,pc-NPG比cd-NPG具有更高的CO法拉第效率和電流密度。說明pc-NPG催化CO2高活性主要來源于高密度的表面臺階。

要點(diǎn)2:長時催化反應(yīng)后,納米多孔金屬的結(jié)構(gòu)變化
▲圖2 (a-b) 長時間穩(wěn)定性測試;(c-d) Pb-upd測試;(e) NPG電極在反應(yīng)前,10小時反應(yīng)后以及再活化后表面臺階所占的比例;(f) Au 4f XPS。
在長時間催化反應(yīng)過程中,NPG生成CO產(chǎn)物的法拉第效率不斷下降。Pb-upd測試pc-NPG在10小時反應(yīng)前后的結(jié)構(gòu)變化顯示,表面臺階的比例從29.8%降低至14.8%。XPS和原位CV掃描進(jìn)一步發(fā)現(xiàn),pc-NPG經(jīng)過10小時反應(yīng)后,電極表面有Zn, Pb, Cu等金屬離子雜質(zhì)沉積。受到電位循環(huán)可以調(diào)控電極表面結(jié)構(gòu)的啟發(fā),我們將失活后的NPG電極置于0.1 M H2SO4溶液中再次進(jìn)行10圈的CV循環(huán),發(fā)現(xiàn)失活電極的FECO又重新回到了~90%以上,而且可以持續(xù)兩個小時以上,說明失活的催化電極又恢復(fù)了活性。Pb-upd測量也發(fā)現(xiàn)電極活化后,表面臺階的比例又提高到27.6%,而且表面沉積的金屬雜質(zhì)原子也基本去除。

要點(diǎn)3:金屬離子雜質(zhì)在電極表面沉積的位置
采用EDTA純化溶液,并進(jìn)行長時間穩(wěn)定性測試,發(fā)現(xiàn)NPG電極活性衰減程度明顯減弱,Pb-upd測試證實(shí)表面臺階比例僅從29.8%減少至22.9%。這一結(jié)果說明CO2還原過程中溶液里的金屬離子雜質(zhì)傾向于在表面臺階的位置沉積,從而使活性位點(diǎn)數(shù)量大幅下降。

▲圖3 (a) pc-NPG在純化溶液里的長時間穩(wěn)定性測試;(b) 原位CV掃描; (c) Pb-upd測試;(d)在不同溶液里測試10小時后,pc-NPG電極的表面結(jié)構(gòu)變化。

總結(jié)與展望


該工作報道了一種采用電位循環(huán)法制備納米多孔金的電化學(xué)脫合金方法,并且運(yùn)用Pb欠電位沉積證明了其高催化活性來源于高密度的表面臺階位點(diǎn)。長時間反應(yīng)后,NPG的催化活性會顯著降低,XPS和原位CV掃描發(fā)現(xiàn)其活性降低的主要原因是由于表面臺階(活性位點(diǎn))數(shù)量減少和金屬離子雜質(zhì)(Zn,Pb和Cu)的沉積。失活的NPG電極經(jīng)過再次電位循環(huán)后,可使催化電極的活性恢復(fù)到FECO > 90%以上。

未來我們需要更深入理解催化劑表面結(jié)構(gòu)的演化動力學(xué),結(jié)合原位光譜和質(zhì)譜研究中間產(chǎn)物、生成產(chǎn)物的演化規(guī)律,并且結(jié)合欠電位沉積研究活性恢復(fù)的微觀機(jī)理。比如我們一直期望能實(shí)現(xiàn)原位的觀測和表征,但是受限于現(xiàn)有的條件,在這個工作中我們沒能實(shí)現(xiàn)?,F(xiàn)階段,我們正在深入研究這個方向,實(shí)驗(yàn)室也在逐步搭設(shè)原位的Raman表征平臺,希望將來能做出更多更好的工作。

原文鏈接
https://pubs.acs.org/doi/10.1021/acscatal.0c00627

研之成理


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